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Metadados

1. Identificação
Tipo de ReferênciaTese ou Dissertação (Thesis)
Sitemtc-m21b.sid.inpe.br
Código do Detentorisadg {BR SPINPE} ibi 8JMKD3MGPCW/3DT298S
Identificador8JMKD3MGP5W34M/3FRBRB2
Repositóriosid.inpe.br/mtc-m21b/2014/02.28.17.33
Última Atualização2014:09.01.17.55.20 (UTC) administrator
Repositório de Metadadossid.inpe.br/mtc-m21b/2014/02.28.17.33.45
Última Atualização dos Metadados2018:06.04.03.04.03 (UTC) administrator
Chave SecundáriaINPE-17413-TDI/2216
Chave de CitaçãoMachado:2014:EsPrGa
TítuloEstudo de um processo de garantia da confiabilidade de sistemas eletrônicos embarcados a single event upsets causados por partículas ionizantes
Título AlternativoStudy of an assurance process of reliability of embedded electronic systems to single event upsets caused by ionizing particles
CursoCSE-ETES-SPG-INPE-MCTI-GOV-BR
Ano2014
Data2014-05-14
Data de Acesso17 maio 2024
Tipo da TeseDissertação (Mestrado em Engenharia e Gerenciamento de Sistemas Espaciais)
Tipo SecundárioTDI
Número de Páginas220
Número de Arquivos1
Tamanho4381 KiB
2. Contextualização
AutorMachado, Sérgio Roberto Ferreira
GrupoCSE-ETES-SPG-INPE-MCTI-GOV-BR
BancaSantos, Walter Abrahão dos (presidente)
Souza, Marcelo Lopes de Oliveira e (orientador)
Milani, Paulo Giácomo
Manea, Silvio
Federico, Claudio Antonio
Endereço de e-Mailsergio.roberto@anac.gov.br
UniversidadeInstituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE)
CidadeSão José dos Campos
Histórico (UTC)2014-02-28 17:33:45 :: sergio.roberto@anac.gov.br -> administrator ::
2014-03-18 09:14:34 :: administrator -> yolanda ::
2014-04-03 13:56:34 :: yolanda -> administrator ::
2014-07-08 15:56:44 :: administrator -> sergio.roberto@anac.gov.br ::
2014-07-10 22:41:36 :: sergio.roberto@anac.gov.br -> administrator ::
2014-07-11 00:49:23 :: administrator -> yolanda ::
2014-07-11 11:28:40 :: yolanda -> sergio.roberto@anac.gov.br ::
2014-07-11 17:22:07 :: sergio.roberto@anac.gov.br -> yolanda ::
2014-08-29 16:52:54 :: yolanda -> tereza@sid.inpe.br ::
2014-09-01 17:34:42 :: tereza@sid.inpe.br :: -> 2014
2014-09-01 18:10:27 :: tereza@sid.inpe.br -> administrator :: 2014
2018-06-04 03:04:03 :: administrator -> :: 2014
3. Conteúdo e estrutura
É a matriz ou uma cópia?é a matriz
Estágio do Conteúdoconcluido
Transferível1
Palavras-Chaveefeitos de radiações ionizantes
SEU - Single Event Upset
sistemas tolerantes à falha
Engenharia de Sistemas
Ionizing radiations effects
SEU - Single Event Upset
fault tolerant systems
Systems Engineering
ResumoOs sistemas aeroespaciais estão se tornando cada vez mais complexos e/ou altamente integrados, conforme definido pela ARP 4754A, fazendo uso extensivo de microeletrônica e memórias digitais que, por sua vez, operam em freqüências cada vez mais altas e tensões cada vez menores. Além disso, as aeronaves estão voando a altitudes cada vez maiores e em rotas polares com freqüências cada vez maiores. Tais fatores aumentam a probabilidade de ocorrência de efeitos prejudiciais causados por partículas e radiações ionizantes gerando efeitos do tipo \emph{Single Event Upsets} - SEUs sobre os seus sistemas eletrônicos embarcados. Estes devem ser projetados de forma a serem robustos aos SEUs baseando-se em critérios como confiabilidade, disponibilidade e criticalidade. A presente dissertação apresenta uma proposta de recomendações para garantia da robustez de sistemas eletrônicos embarcados aeroespaciais a SEUs causados por partículas e radiações ionizantes. A proposta visa auxiliar o setor aeroespacial (especialmente, o INPE e a ANAC) na captura e estruturação das principais considerações para o desenvolvimento e especificação de sistemas aeroespaciais robustos a falhas causadas pelo ambiente de partículas e radiações ionizantes. Para isto, o trabalho: 1) faz uma revisão bibliográfica dos principais conceitos envolvidos no problema da ocorrência de SEUs em sistemas eletrônicos embarcados aeroespaciais; 2) estuda os aspectos ligados à garantia de robustez à SEUs causados por radiações ionizantes em sistemas aeroespaciais; 3) estuda algumas das normas e recomendações mais utilizadas pela indústria espacial (normas da ESA e NASA) e aeronáutica (normas da SAE, RTCA, etc.) ligadas aos processo de garantia de robustez à partículas e radiações ionizantes; 4) discute as normas ESA, NASA, SAE, IEC, RTCA, etc. e recomendações para garantia de robustez a SEU em sistemas eletrônicos embarcados aeroespaciais; 5) propõe recomendações para garantia de robustez de sistemas eletrônicos embarcados a SEUs causados por partículas e radiações ionizantes (a grande experiência do setor espacial em lidar com o fenômeno SEU contribuiu para a definição de recomendações para sistemas aeronáuticos); 6) aplica estas recomendações a casos de estudo da literatura. Os resultados destas aplicações sugerem que as recomendações propostas são adequadas para a utilização no setor aeroespacial (especialmente no INPE e na ANAC). O detalhamento de um processo de garantia de robustez a SEUs e a extensão das recomendações para garantia de robustez a outros efeitos de partículas e radiações ionizantes são sugestões para trabalhos futuros. ABSTRACT: The aerospace electronic systems are getting more complex and/or highly integrated, as defined by ARP 4754A, making extensive use of microelectronics and digital memories which, in turn, operate in higher frequencies and lower voltages. In addition, the aircraft are flying in higher altitudes, and polar routes are getting more frequent. These factors raise the probability of occurrence of hazardous effects caused by ionizing radiation like the Single Event Upsets - SEUs in their embedded electronic systems. These must be designed in a way to be robust to Single Event Upsets, based upon criteria such as reliability, availability and criticality. This dissertation presents a proposal of guidelines for the assurance of the robustness of aerospace embedded electronic systems to SEUs caused by ionizing particles and radiations. The proposal aims to assist the aerospace sector (especially INPE and ANAC) in capturing and structuring of the main considerations for the development and specification of aerospace systems robust to failures caused by the ionizing particles and radiations environment. To accomplish this objective, this work: 1) performs a bibliographic review of the main concepts related to the issue of SEUs occurrence in aerospace embedded electronic systems; 2) studies the aspects related to the assurance of robustness to SEUs caused by ionizing particles and radiations in aerospace systems; 3) studies some of the main standards and guidelines from the space (ESA and NASA standards) and aeronautics (SAE, RTCA, etc. standards) industry, related to the issue considered in this work; 4) discuss the standards from ESA, NASA, SAE, RTCA, etc. and guidelines to assurance the robustness of aerospace embedded electronic systems to SEUs caused by ionizing particles and radiations; 5) proposes guidelines to assure the robustness of embedded electronic systems to SEUs caused by ionizing particles and radiations (the great background of the space sector in dealing with the phenomena contributed to the definition of the guidelines for the aeronautics systems); 6) applies the guidelines to case studies of the literature. The results of this application suggest that the proposed guidelines are adequate to be used in the aerospace sector (especially at INPE and ANAC). The detailing of a process of assurance of robustness to SEUs and the extension of the guidelines to assure the robustness to other ionizing particles and radiation effects are suggestions to future works.
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Idiomapt
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Detentor dos Direitosoriginalauthor yes
Permissão de Leituraallow from all
Permissão de Atualizaçãonão transferida
5. Fontes relacionadas
Repositório Espelhosid.inpe.br/mtc-m21b/2013/09.26.14.25.22
Unidades Imediatamente Superiores8JMKD3MGPCW/3F35BSP
Lista de Itens Citandosid.inpe.br/bibdigital/2013/10.14.22.20 4
Acervo Hospedeirosid.inpe.br/mtc-m21b/2013/09.26.14.25.20
6. Notas
Campos Vaziosacademicdepartment affiliation archivingpolicy archivist callnumber contenttype copyholder creatorhistory descriptionlevel dissemination doi electronicmailaddress format isbn issn label lineage mark nextedition notes number orcid parameterlist parentrepositories previousedition previouslowerunit progress resumeid schedulinginformation secondarydate secondarymark session shorttitle sponsor subject tertiarymark tertiarytype url versiontype


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